美国博曼BA100膜厚测厚仪采用美国最新行业技术，能够测量包含原子序号17至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层(银、金、钯、锡等)和其它薄镀层. 利用X射线荧光的非接触式的无损测试技术完美地应用于微电子学、光通讯和数据储存工业中的金属薄膜测量。可以同时测量多至6层的金属镀层的厚度和成份，测量厚度可以至微米（um），微英寸（u”），它也能测量多至20个元素的块状合金成份，是您节约生产成本，赢得客户信赖的不二选择。
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